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您的位置：首页 > 产品知识 > 详细介绍工业X射线探伤的原理详细介绍工业X射线探伤的原理
理论上，X射线或γ射线透照或透视用于检查金属成品和半成品中的内部宏观缺陷，统称为射线探伤检测。这种方法用于金属零件检测内部缺陷，主要是在使用光线通过零件后，光线的强度会不同程度地减弱。根据弱化情况，可以判断缺陷的位置，形状，大小和严重程度。
X射线和γ射线，如可见光和无线电波一样，属于电磁波。它们基本相同，具有相同的传播速度，但具有不同的频率和波长，并且射线的波长短且频率高。 X射线由特殊类型的X射线管产生。从阴极灯丝发射的高速电子撞击在阳极靶上，并且一些电子在核场中被急剧阻挡，导致内部电子转变以产生x射线。 γ射线由放射性同位素（例如钴60，铱192，铯137，铥170等）产生。放射性同位素是一种不稳定的同位素。它处于激发状态，其原子核的能级高于基准能级。在释放y射线的同时改变基准水平。
X射线和Y射线都具有穿透物质的能力。较大的能量（较短波长）射线在穿透材料时吸收较少，称为硬辐射（或硬射线）;具有较小能量（较长波长）的光在穿透物质时被更多地吸收，称为软辐射（或软射线），X射线通常属于硬射线范围。射线穿透物质时的能量损失称为能量衰减。能量的衰减主要是光电子的形成（光电效应）和射线能量的吸收，其次是弹性碰撞（所谓的汤姆逊效应）和非弹性碰撞（即康普顿）和散射引起的射线能量的吸收。除了形成电子对外，还能吸收射线的能量。
射线探伤就是利用射线通过物质被不同程度的吸收这一原理， 来检验金属制件中的缺陷的。 探伤过程可以用下图 来简要地加以说明。
图中 1为射线源， 2为被检验物体，3 为物体内缺陷（气孔），4 为照相底片，5为透照到底片上的射线的强度或感光并冲洗后底片的黑度。 显然， 被检验物体中的缺陷的类型、 形状、 大小和部位等，可以从底片上的影子加以判别。
需要提出的是，在射线探伤工作中，主要是利用物质对射线的吸收这一性能。 物质对射线的散射，对探伤工作不仅无益，反而有不利的影响。
X射线和γ射线，如可见光和无线电波一样，属于电磁波。它们基本相同，具有相同的传播速度，但具有不同的频率和波长，并且射线的波长短且频率高。 X射线由特殊类型的X射线管产生。从阴极灯丝发射的高速电子撞击在阳极靶上，并且一些电子在核场中被急剧阻挡，导致内部电子转变以产生x射线。 γ射线由放射性同位素（例如钴60，铱192，铯137，铥170等）产生。放射性同位素是一种不稳定的同位素。它处于激发状态，其原子核的能级高于基准能级。在释放y射线的同时改变基准水平。
X射线和Y射线都具有穿透物质的能力。较大的能量（较短波长）射线在穿透材料时吸收较少，称为硬辐射（或硬射线）;具有较小能量（较长波长）的光在穿透物质时被更多地吸收，称为软辐射（或软射线），X射线通常属于硬射线范围。射线穿透物质时的能量损失称为能量衰减。能量的衰减主要是光电子的形成（光电效应）和射线能量的吸收，其次是弹性碰撞（所谓的汤姆逊效应）和非弹性碰撞（即康普顿）和散射引起的射线能量的吸收。除了形成电子对外，还能吸收射线的能量。
射线探伤就是利用射线通过物质被不同程度的吸收这一原理， 来检验金属制件中的缺陷的。 探伤过程可以用下图 来简要地加以说明。
图中 1为射线源， 2为被检验物体，3 为物体内缺陷（气孔），4 为照相底片，5为透照到底片上的射线的强度或感光并冲洗后底片的黑度。 显然， 被检验物体中的缺陷的类型、 形状、 大小和部位等，可以从底片上的影子加以判别。
需要提出的是，在射线探伤工作中，主要是利用物质对射线的吸收这一性能。 物质对射线的散射，对探伤工作不仅无益，反而有不利的影响。
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